Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe AFM in contact mode - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe AFM in contact mode

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00320256

Soumis le : mercredi 10 septembre 2008-15:18:23

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00320256 , version 1 (10-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00320256 , version 1

Citer

Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, Olivier Schneegans, René Meyer, Lionel Boyer. Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe AFM in contact mode. Xtip'05, 2005, France. ⟨hal-00320256⟩

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