Communication Dans Un Congrès
Année : 2005
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https://centralesupelec.hal.science/hal-00320256
Soumis le : mercredi 10 septembre 2008-15:18:23
Dernière modification le : mercredi 13 août 2025-03:05:34
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00320256 , version 1
Citer
Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, Olivier Schneegans, René Meyer, Lionel Boyer. Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe AFM in contact mode. Xtip'05, 2005, France. ⟨hal-00320256⟩
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