Mesures locales de photoconductivité par AFM à pointe conductrice sur des dispositifs métal-semiconducteur-métal à base de diamant - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Mesures locales de photoconductivité par AFM à pointe conductrice sur des dispositifs métal-semiconducteur-métal à base de diamant

José Alvarez
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Frédéric Houzé
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Pascal Chrétien
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
M. Liao
  • Fonction : Auteur
Y. Koide
  • Fonction : Auteur

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00320320

Soumis le : mercredi 10 septembre 2008-16:46:48

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00320320 , version 1 (10-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00320320 , version 1

Citer

José Alvarez, Jean-Paul Kleider, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, M. Liao, et al.. Mesures locales de photoconductivité par AFM à pointe conductrice sur des dispositifs métal-semiconducteur-métal à base de diamant. Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, 2006, France. ⟨hal-00320320⟩

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