Local photoconductivity on diamond metal-semiconductor-metal photodetectors measured by conducting probe atomic force microscopy - CentraleSupélec
Article Dans Une Revue Diamond and Related Materials Année : 2007

Local photoconductivity on diamond metal-semiconductor-metal photodetectors measured by conducting probe atomic force microscopy

José Alvarez
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Frédéric Houzé
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
M. Liao
  • Fonction : Auteur
Y. Koide
  • Fonction : Auteur

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00320360

Soumis le : mercredi 10 septembre 2008-17:29:52

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00320360 , version 1 (10-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00320360 , version 1

Citer

José Alvarez, Frédéric Houzé, Jean-Paul Kleider, M. Liao, Y. Koide. Local photoconductivity on diamond metal-semiconductor-metal photodetectors measured by conducting probe atomic force microscopy. Diamond and Related Materials, 2007, 16, pp.1074-1077. ⟨hal-00320360⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

SUPELEC UPMC EC-PARIS CNRS SUP_LGEP CENTRALESUPELEC UNIV-PARIS-SACLAY SORBONNE-UNIVERSITE
82 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More