Microscopie à Force Atomique à Pointe Conductrice : carctérisations électriques et modifications physico-chimiques de matériaux par un instrument en développement - CentraleSupélec
Autre Publication Scientifique Année : 2007

Microscopie à Force Atomique à Pointe Conductrice : carctérisations électriques et modifications physico-chimiques de matériaux par un instrument en développement

Olivier Schneegans
Laboratoire de génie électrique de Paris

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00320403

Soumis le : mercredi 10 septembre 2008-18:27:34

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00320403 , version 1 (10-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00320403 , version 1

Citer

Olivier Schneegans. Microscopie à Force Atomique à Pointe Conductrice : carctérisations électriques et modifications physico-chimiques de matériaux par un instrument en développement. 2007. ⟨hal-00320403⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

SUPELEC UPMC EC-PARIS CNRS SUP_LGEP CENTRALESUPELEC UNIV-PARIS-SACLAY SORBONNE-UNIVERSITE
41 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More