Investigation of a-Si:H/c-Si heterojunction interface properties by admittance spectroscopy - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2004

Investigation of a-Si:H/c-Si heterojunction interface properties by admittance spectroscopy

Alexander Gudovskikh
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1409909
  • IdRef : 230416667
Laboratoire de génie électrique de Paris
Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00321101

Soumis le : vendredi 12 septembre 2008-12:57:04

Dernière modification le : mardi 27 août 2024-15:31:39

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00321101 , version 1 (12-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00321101 , version 1

Citer

Alexander Gudovskikh, Jean-Paul Kleider. Investigation of a-Si:H/c-Si heterojunction interface properties by admittance spectroscopy. 4th AMS (international conference on Amorphous ans Microcrystalline Semiconductors), 2004, Russia. ⟨hal-00321101⟩

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