Characterization of a-Si:H/c-Si interface by admittance spectroscopy - CentraleSupélec
Article Dans Une Revue Semiconductors Année : 2005

Characterization of a-Si:H/c-Si interface by admittance spectroscopy

Alexander Gudovskikh
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1409909
  • IdRef : 230416667
Laboratoire de génie électrique de Paris
Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
E.I. Terukov
  • Fonction : Auteur

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00321250

Soumis le : vendredi 12 septembre 2008-16:19:46

Dernière modification le : mardi 27 août 2024-15:31:39

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00321250 , version 1 (12-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00321250 , version 1

Citer

Alexander Gudovskikh, Jean-Paul Kleider, E.I. Terukov. Characterization of a-Si:H/c-Si interface by admittance spectroscopy. Semiconductors, 2005, 39, pp.903-909. ⟨hal-00321250⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

SUPELEC UPMC EC-PARIS CNRS SUP_LGEP CENTRALESUPELEC UNIV-PARIS-SACLAY SORBONNE-UNIVERSITE
30 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More