The modulated photocurrent technique: comparison of the high and low frequency regimes for the characterisation of bandgap states in thin films semiconductors - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

The modulated photocurrent technique: comparison of the high and low frequency regimes for the characterisation of bandgap states in thin films semiconductors

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00321563

Soumis le : lundi 15 septembre 2008-12:18:50

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00321563 , version 1 (15-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00321563 , version 1

Citer

Marie-Estelle Gueunier-Farret, Jean-Paul Kleider, Christophe Longeaud. The modulated photocurrent technique: comparison of the high and low frequency regimes for the characterisation of bandgap states in thin films semiconductors. a-SiNet Workshop, 2005, Netherlands. ⟨hal-00321563⟩

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