Transport properties and defects in silicon nanoparticles and effect of embedding in amorphous silicon layers - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Transport properties and defects in silicon nanoparticles and effect of embedding in amorphous silicon layers

Marie-Estelle Gueunier-Farret
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
F. Voigt
  • Fonction : Auteur
R. Brüggemann
  • Fonction : Auteur
G.H. Bauer
  • Fonction : Auteur
F. Huisken
  • Fonction : Auteur

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00321697

Soumis le : lundi 15 septembre 2008-16:44:26

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00321697 , version 1 (15-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00321697 , version 1

Citer

Marie-Estelle Gueunier-Farret, Jean-Paul Kleider, F. Voigt, R. Brüggemann, G.H. Bauer, et al.. Transport properties and defects in silicon nanoparticles and effect of embedding in amorphous silicon layers. 21st International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors, 2005, Portugal. ⟨hal-00321697⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

SUPELEC UPMC EC-PARIS CNRS SUP_LGEP CENTRALESUPELEC UNIV-PARIS-SACLAY SORBONNE-UNIVERSITE
38 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More