Local electrical characterization of Schottky diodes on H-terminated diamond surfaces by conducting probe atomic force microscopy - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Local electrical characterization of Schottky diodes on H-terminated diamond surfaces by conducting probe atomic force microscopy

Frédéric Houzé
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
José Alvarez
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
P. Bergonzo
E. Snidero
  • Fonction : Auteur
D. Tromson
  • Fonction : Auteur

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00321705

Soumis le : lundi 15 septembre 2008-16:50:54

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00321705 , version 1 (15-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00321705 , version 1

Citer

Frédéric Houzé, José Alvarez, Jean-Paul Kleider, P. Bergonzo, E. Snidero, et al.. Local electrical characterization of Schottky diodes on H-terminated diamond surfaces by conducting probe atomic force microscopy. Diamond 2005, 2005, France. ⟨hal-00321705⟩

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