Crystallographic and electrical characterization of tungsten carbide thin films for Schottky contact of diamond photodiode - CentraleSupélec
Article Dans Une Revue Journal of Vacuum Science and Technology Année : 2006

Crystallographic and electrical characterization of tungsten carbide thin films for Schottky contact of diamond photodiode

M. Liao
  • Fonction : Auteur
Y. Koide
  • Fonction : Auteur
José Alvarez
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00321748

Soumis le : lundi 15 septembre 2008-17:56:30

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00321748 , version 1 (15-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00321748 , version 1

Citer

M. Liao, Y. Koide, José Alvarez. Crystallographic and electrical characterization of tungsten carbide thin films for Schottky contact of diamond photodiode. Journal of Vacuum Science and Technology, 2006, 24, pp.185-189. ⟨hal-00321748⟩

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