Comparison of optical and electrical gap of electrodeposited CuIn(S,Se)2 determined by spectral photo response and I-V-T measurements - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Comparison of optical and electrical gap of electrodeposited CuIn(S,Se)2 determined by spectral photo response and I-V-T measurements

Zakaria Djebbour
Laboratoire de génie électrique de Paris
Anne Migan-Dubois
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Arouna Darga
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Denis Mencaraglia
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Cyril Bazin
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
J.P. Connolly
CV
J.-F. Guillemoles
CV
B. Canava
  • Fonction : Auteur
A. Etcheberry

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00321889

Soumis le : mardi 16 septembre 2008-10:31:50

Dernière modification le : mardi 27 août 2024-11:55:44

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00321889 , version 1 (16-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00321889 , version 1

Citer

Zakaria Djebbour, Anne Migan-Dubois, Arouna Darga, Denis Mencaraglia, Cyril Bazin, et al.. Comparison of optical and electrical gap of electrodeposited CuIn(S,Se)2 determined by spectral photo response and I-V-T measurements. E-MRS 2006, 2006, France. ⟨hal-00321889⟩

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