Local electrical and photoelectrical characterizations of diamond electronic devices by conducting probe atomic force microscopy - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Local electrical and photoelectrical characterizations of diamond electronic devices by conducting probe atomic force microscopy

José Alvarez
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00321893

Soumis le : mardi 16 septembre 2008-10:35:03

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00321893 , version 1 (16-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00321893 , version 1

Citer

José Alvarez. Local electrical and photoelectrical characterizations of diamond electronic devices by conducting probe atomic force microscopy. National Institute of Materials Science, 2006, Japan. ⟨hal-00321893⟩

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