New method for interface characterisation in heterojunction solar cells based on diffusion capacitance measurements - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

New method for interface characterisation in heterojunction solar cells based on diffusion capacitance measurements

A.S. Gudovskikh
  • Fonction : Auteur
V. Lantratov
  • Fonction : Auteur
Rémy Chouffot
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
J. Damon-Lacoste
  • Fonction : Auteur
D. Eon
  • Fonction : Auteur
Pere Roca I Cabarrocas
P.J. Ribeyron
  • Fonction : Auteur

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00322267

Soumis le : mercredi 17 septembre 2008-10:35:55

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00322267 , version 1 (17-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00322267 , version 1

Citer

A.S. Gudovskikh, V. Lantratov, Rémy Chouffot, Jean-Paul Kleider, J. Damon-Lacoste, et al.. New method for interface characterisation in heterojunction solar cells based on diffusion capacitance measurements. E-MRS 2007 Spring Meeting, 2007, France. ⟨hal-00322267⟩

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