Admittance spectroscopy defect density of electrodeposited CuIn(S,Se)2 and its correlation with solar cells performances - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Admittance spectroscopy defect density of electrodeposited CuIn(S,Se)2 and its correlation with solar cells performances

Arouna Darga
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Zakaria Djebbour
Laboratoire de génie électrique de Paris
Denis Mencaraglia
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Anne Migan-Dubois
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
J.P. Connolly
CV
J.-F. Guillemoles
CV
D. Lincot
  • Fonction : Auteur

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00322313

Soumis le : mercredi 17 septembre 2008-11:51:05

Dernière modification le : mardi 27 août 2024-11:55:44

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00322313 , version 1 (17-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00322313 , version 1

Citer

Arouna Darga, Zakaria Djebbour, Denis Mencaraglia, Anne Migan-Dubois, J.P. Connolly, et al.. Admittance spectroscopy defect density of electrodeposited CuIn(S,Se)2 and its correlation with solar cells performances. E-MRS 2007 Fall Meeting, 2007, Poland. ⟨hal-00322313⟩

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