Etude par AFM à pointe conductrice du comportement mécanique et électrique de films nanométriques greffés - CentraleSupélec Access content directly
Conference Papers Year : 2008

Etude par AFM à pointe conductrice du comportement mécanique et électrique de films nanométriques greffés

Sophie Noël
M. Balog
  • Function : Author
P. Viel
  • Function : Author
F. Le Derf
M. Sallé
Serge Palacin
No file

Dates and versions

hal-00351436 , version 1 (09-01-2009)

Identifiers

  • HAL Id : hal-00351436 , version 1

Cite

David Alamarguy, Sophie Noël, Alessandro Benedetto, M. Balog, P. Viel, et al.. Etude par AFM à pointe conductrice du comportement mécanique et électrique de films nanométriques greffés. 11èmes Journées de la Matière Condensée, Aug 2008, Strasbourg, France. pp.0. ⟨hal-00351436⟩
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