Study of the DOF management of dual formulations for the modelling of thin cracks in ECT - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Study of the DOF management of dual formulations for the modelling of thin cracks in ECT

Yahya Choua
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
Laurent Santandréa
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Yann Le Bihan
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Claude Marchand
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00352908

Soumis le : mercredi 14 janvier 2009-10:46:20

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00352908 , version 1 (14-01-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00352908 , version 1

Citer

Yahya Choua, Laurent Santandréa, Yann Le Bihan, Claude Marchand. Study of the DOF management of dual formulations for the modelling of thin cracks in ECT. European Magnetic Sensors and Actuators Conference EMSA 2008 Conference, Jul 2008, Caen, France. ⟨hal-00352908⟩

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