Non destructive evaluation of small defects using an eddy current microcoil sensor array - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Non destructive evaluation of small defects using an eddy current microcoil sensor array

Cyril Ravat
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
P.-Y. Joubert
Yann Le Bihan
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Claude Marchand
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00353081

Soumis le : mercredi 14 janvier 2009-16:02:15

Dernière modification le : mardi 7 novembre 2023-11:43:28

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00353081 , version 1 (14-01-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00353081 , version 1

Citer

Cyril Ravat, P.-Y. Joubert, Yann Le Bihan, Claude Marchand. Non destructive evaluation of small defects using an eddy current microcoil sensor array. EMSA 2008 Conference, Jul 2008, Caen, France. ⟨hal-00353081⟩

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