An original apparatus for endurance testing of MEMS electrical contact materials - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

An original apparatus for endurance testing of MEMS electrical contact materials

M. Vincent
  • Fonction : Auteur
L. Chiesi
  • Fonction : Auteur
P. Rousset
  • Fonction : Auteur
C. Lapierre
  • Fonction : Auteur
C. Poulain
  • Fonction : Auteur
L. Carbone
  • Fonction : Auteur
J. Delamarre
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00445399 , version 1 (08-01-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00445399 , version 1

Citer

M. Vincent, L. Chiesi, P. Rousset, C. Lapierre, C. Poulain, et al.. An original apparatus for endurance testing of MEMS electrical contact materials. 55th Holm Conference on Electrical Contacts, Sep 2009, Vancouver, Canada. pp. 285-289. ⟨hal-00445399⟩
24 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More