Communication Dans Un Congrès
Année : 2009
Olivier Schneegans : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://centralesupelec.hal.science/hal-00445399
Soumis le : vendredi 8 janvier 2010-12:45:43
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00445399 , version 1
Citer
M. Vincent, L. Chiesi, P. Rousset, C. Lapierre, C. Poulain, et al.. An original apparatus for endurance testing of MEMS electrical contact materials. 55th Holm Conference on Electrical Contacts, Sep 2009, Vancouver, Canada. pp. 285-289. ⟨hal-00445399⟩
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