Study of the Degrees of Freedom Management of Dual Formulations for the Modelling of Thin Cracks in Eddy Current Testing - CentraleSupélec
Article Dans Une Revue Sensor letters Année : 2009

Study of the Degrees of Freedom Management of Dual Formulations for the Modelling of Thin Cracks in Eddy Current Testing

Yahya Choua
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
Laurent Santandréa
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Yann Le Bihan
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Claude Marchand
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00447220

Soumis le : jeudi 14 janvier 2010-15:39:40

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Dates et versions

hal-00447220 , version 1 (14-01-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00447220 , version 1

Citer

Yahya Choua, Laurent Santandréa, Yann Le Bihan, Claude Marchand. Study of the Degrees of Freedom Management of Dual Formulations for the Modelling of Thin Cracks in Eddy Current Testing. Sensor letters, 2009, 7 (5), pp. 475-479. ⟨hal-00447220⟩

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