Mesh Refinement in Eddy Current Testing with Separated T-R probes - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Mesh Refinement in Eddy Current Testing with Separated T-R probes

Yahya Choua
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
Laurent Santandréa
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Yann Le Bihan
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Claude Marchand
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00447250

Soumis le : jeudi 14 janvier 2010-15:46:39

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00447250 , version 1 (14-01-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00447250 , version 1

Citer

Yahya Choua, Laurent Santandréa, Yann Le Bihan, Claude Marchand. Mesh Refinement in Eddy Current Testing with Separated T-R probes. COMPUMAG, Nov 2009, Florianópolis, Brazil. pp. 1048-1049. ⟨hal-00447250⟩

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