Temperature Measurement of Copper Contact Surfaces - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Temperature Measurement of Copper Contact Surfaces

Romaric Landfried
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Thierry Leblanc
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Richard Andlauer
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
T. Klonowski
  • Fonction : Auteur
Philippe Testé
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00554772

Soumis le : mardi 11 janvier 2011-13:06:31

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00554772 , version 1 (11-01-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00554772 , version 1

Citer

Romaric Landfried, Thierry Leblanc, Richard Andlauer, T. Klonowski, Philippe Testé. Temperature Measurement of Copper Contact Surfaces. 25th ICEC and 56th Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2010, Charleston, United States. pp.148-152. ⟨hal-00554772⟩

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