Conductive-atomic force microscopy characterization of silicon nanowires - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Conductive-atomic force microscopy characterization of silicon nanowires

José Alvarez
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Irène Ngo
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
Marie-Estelle Gueunier-Farret
CV
Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Lianbo Yu
  • Fonction : Auteur
Pere Roca I Cabarrocas
Simon Perraud
  • Fonction : Auteur
E. Rouvière
  • Fonction : Auteur

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00555251

Soumis le : mercredi 12 janvier 2011-17:23:05

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00555251 , version 1 (12-01-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00555251 , version 1

Citer

José Alvarez, Irène Ngo, Marie-Estelle Gueunier-Farret, Jean-Paul Kleider, Lianbo Yu, et al.. Conductive-atomic force microscopy characterization of silicon nanowires. E-MRS 2010 Fall Meeting, Sep 2010, Varsovie, Poland. ⟨hal-00555251⟩

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