Comparison of two methods for modeling thin regions in eddy current non-destructive testing - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Comparison of two methods for modeling thin regions in eddy current non-destructive testing

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00555709

Soumis le : vendredi 14 janvier 2011-11:24:48

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

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Dates et versions

hal-00555709 , version 1 (14-01-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00555709 , version 1

Citer

Alejandro Ospina Vargas, Houda Zaidi, Laurent Santandréa, Guillaume Krebs, Yann Le Bihan. Comparison of two methods for modeling thin regions in eddy current non-destructive testing. CEFC 2010, May 2010, Chicago, IL, United States. ⟨hal-00555709⟩

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