Dielectric properties of semiconducting YBaCuO thin films for future uncooled THz bolometers: characterization using a coaxial-discontinuity technique. - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Dielectric properties of semiconducting YBaCuO thin films for future uncooled THz bolometers: characterization using a coaxial-discontinuity technique.

Aurélie Gensbittel
Laboratoire de génie électrique de Paris
Alireza Banisadr
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
Olivier Dubrunfaut
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Jean-Claude Badot
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1409060
  • IdRef : 033471088
Alain Kreisler
Laboratoire de génie électrique de Paris
Annick Dégardin
Laboratoire de génie électrique de Paris

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00710701

Soumis le : jeudi 21 juin 2012-15:14:17

Dernière modification le : vendredi 23 août 2024-11:20:02

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00710701 , version 1 (21-06-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00710701 , version 1

Citer

Aurélie Gensbittel, Alireza Banisadr, Olivier Dubrunfaut, Jean-Claude Badot, Alain Kreisler, et al.. Dielectric properties of semiconducting YBaCuO thin films for future uncooled THz bolometers: characterization using a coaxial-discontinuity technique.. PIERS 2011: Progress In Electromagnetics Research Symposium, Mar 2011, Marrakesh, Morocco. ⟨hal-00710701⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

SUPELEC UPMC EC-PARIS CNRS SUP_LGEP CENTRALESUPELEC UNIV-PARIS-SACLAY SORBONNE-UNIVERSITE
104 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More