Influence of the amorphous/crystalline silicon heterostructure properties on planar conductance measurements - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Influence of the amorphous/crystalline silicon heterostructure properties on planar conductance measurements

Renaud Varache
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
Wilfried Favre
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
Lars Korte
  • Fonction : Auteur
Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00710775

Soumis le : jeudi 21 juin 2012-15:53:38

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:55

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00710775 , version 1 (21-06-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00710775 , version 1

Citer

Renaud Varache, Wilfried Favre, Lars Korte, Jean-Paul Kleider. Influence of the amorphous/crystalline silicon heterostructure properties on planar conductance measurements. ICANS24, Aug 2011, Nara, Japan. ⟨hal-00710775⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

SUPELEC UPMC EC-PARIS CNRS SUP_LGEP CENTRALESUPELEC UNIV-PARIS-SACLAY SORBONNE-UNIVERSITE
41 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More