Coil-to-sample distance influence on contactless QSSPC effective lifetime measurements : application to silicon wafers passivated by thin amorphous layers - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Coil-to-sample distance influence on contactless QSSPC effective lifetime measurements : application to silicon wafers passivated by thin amorphous layers

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00710780

Soumis le : jeudi 21 juin 2012-15:53:51

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:55

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00710780 , version 1 (21-06-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00710780 , version 1

Citer

Wilfried Favre, Laroussi Bettaieb, J. Després, José Alvarez, Jean-Paul Kleider, et al.. Coil-to-sample distance influence on contactless QSSPC effective lifetime measurements : application to silicon wafers passivated by thin amorphous layers. 26th EU PVSEC, Sep 2011, Hambourg, Germany. ⟨hal-00710780⟩

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