Conductive-atomic force microscopy and Raman spectroscopy characterization of silicon nanowires - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Conductive-atomic force microscopy and Raman spectroscopy characterization of silicon nanowires

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00710790

Soumis le : jeudi 21 juin 2012-15:54:26

Dernière modification le : lundi 16 décembre 2024-15:37:43

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Dates et versions

hal-00710790 , version 1 (21-06-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00710790 , version 1

Citer

Morgane Fruzzetti, José Alvarez, Irène Ngo, Marie-Estelle Gueunier-Farret, Jean-Paul Kleider, et al.. Conductive-atomic force microscopy and Raman spectroscopy characterization of silicon nanowires. Journées Nationales PhotoVoltaïques 2011, Dec 2011, Dourdan, France. ⟨hal-00710790⟩

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