Amorphous Y-Ba-Cu-O oxide thin films grown on silicon substrates: optical properties and infrared sensor characterization for future THz imagers - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Amorphous Y-Ba-Cu-O oxide thin films grown on silicon substrates: optical properties and infrared sensor characterization for future THz imagers

Thierry Leblanc  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00931072

Soumis le : mardi 14 janvier 2014-19:23:56

Dernière modification le : vendredi 20 octobre 2023-16:49:58

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00931072 , version 1 (14-01-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00931072 , version 1

Citer

Alain Kreisler, Xavier Galiano, Vishal Jagtap, Annick Dégardin. Amorphous Y-Ba-Cu-O oxide thin films grown on silicon substrates: optical properties and infrared sensor characterization for future THz imagers. Conference of the European Materials Science Society (E-MRS 2013), May 2013, Strasbourg, France. ⟨hal-00931072⟩

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