Mesure de la permittivité du a-Si:H entre 0.5 et 3 THz - CentraleSupélec
Poster De Conférence Année : 2017

Mesure de la permittivité du a-Si:H entre 0.5 et 3 THz

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Micro et nanotechnologies/Microélectronique Energie électrique Optique / photonique Matériaux

Jean-Paul KLEIDER  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-01632961

Soumis le : vendredi 10 novembre 2017-18:07:14

Dernière modification le : jeudi 1 août 2024-13:48:05

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Dates et versions

hal-01632961 , version 1 (10-11-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01632961 , version 1

Citer

N. Zerounian, A. S. Grimault-Jacquin, Frédéric Aniel, Jean-Paul Kleider, P.Roca I Cabarrocas. Mesure de la permittivité du a-Si:H entre 0.5 et 3 THz. XXèmes Journées Microondes, May 2017, Saint-Malo, France. ⟨hal-01632961⟩

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