Numerical analysis of kelvin probe force microscopy - CentraleSupélec
Poster De Conférence Année : 2017

Numerical analysis of kelvin probe force microscopy

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Micro et nanotechnologies/Microélectronique Energie électrique Optique / photonique Matériaux

Jean-Paul KLEIDER  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-01633187

Soumis le : samedi 11 novembre 2017-17:47:07

Dernière modification le : lundi 16 septembre 2024-17:52:04

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Dates et versions

hal-01633187 , version 1 (11-11-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01633187 , version 1

Citer

J.P. Connolly, J Alvarez, Marie-Estelle Gueunier-Farret, Jean-Paul Kleider, Clément Marchat, et al.. Numerical analysis of kelvin probe force microscopy. 7è Journées Nationales du PhotoVoltaïque (JNPV 2017), Dec 2017, Dourdan, France. ⟨hal-01633187⟩

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