Measurable lower limit of thin film conductivity with parallel plate waveguide terahertz time domain spectroscopy - CentraleSupélec
Article Dans Une Revue Optics Letters Année : 2017

Measurable lower limit of thin film conductivity with parallel plate waveguide terahertz time domain spectroscopy

Domaines

Optique [physics.optics] Matière Condensée [cond-mat] Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Electromagnétisme Matériaux

Alain Kreisler  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-01633904

Soumis le : lundi 13 novembre 2017-15:10:07

Dernière modification le : mercredi 13 mars 2024-18:24:17

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Dates et versions

hal-01633904 , version 1 (13-11-2017)

Identifiants

Citer

Manjakavahoaka Razanoelina, Shohei Ohashi, Iwao Kawayama, Hironaru Murakami, Annick Dégardin, et al.. Measurable lower limit of thin film conductivity with parallel plate waveguide terahertz time domain spectroscopy. Optics Letters, 2017, 42 (15), pp.3056-3059. ⟨10.1364/OL.42.003056⟩. ⟨hal-01633904⟩

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