Apport de l'AFM à pointe conductrice pour la caractérisation des performances de piézo-génération de nanofils GaN - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Characterization of piezo-generation performances of GaN nanowires: contribution of conductive probe AFM

Apport de l'AFM à pointe conductrice pour la caractérisation des performances de piézo-génération de nanofils GaN

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Frédéric Houzé  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-02152858

Soumis le : mardi 11 juin 2019-17:20:41

Dernière modification le : mercredi 30 octobre 2024-13:29:27

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Dates et versions

hal-02152858 , version 1 (11-06-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02152858 , version 1

Citer

Tanbir Sodhi, Pascal Chrétien, Nicolas Jamond, Noëlle Gogneau, Frédéric Houzé. Apport de l'AFM à pointe conductrice pour la caractérisation des performances de piézo-génération de nanofils GaN. 22ème Forum des Microscopies à Sondes Locales, Mar 2019, Carry-le-Rouet, France. pp.167. ⟨hal-02152858⟩

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