Communication Dans Un Congrès
Année : 2019
Claude Delpha : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://centralesupelec.hal.science/hal-02295408
Soumis le : mardi 24 septembre 2019-10:59:19
Dernière modification le : mercredi 30 octobre 2024-13:28:58
Citer
Xiaoxia Zhang, Claude Delpha, Demba Diallo. Nondestructive Incipient Crack Detection based on Wavelet and Jensen-Shannon Divergence in the NICA framework. 45th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society (IECON 2019), Oct 2019, Lisbonne, Portugal. ⟨10.1109/iecon.2019.8927638⟩. ⟨hal-02295408⟩
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