Passivated Selective Contact Structure Characterization by C-AFM and KPFM of the Conduction by Pinholes - CentraleSupélec
Poster De Conférence Année : 2019

Passivated Selective Contact Structure Characterization by C-AFM and KPFM of the Conduction by Pinholes

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Micro et nanotechnologies/Microélectronique Energie électrique Optique / photonique Matériaux

Jean-Paul KLEIDER  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-02344005

Soumis le : dimanche 3 novembre 2019-18:44:33

Dernière modification le : lundi 9 décembre 2024-03:37:46

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02344005 , version 1 (03-11-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02344005 , version 1

Citer

Clément Marchat, Audrey Morisset, José Alvarez, Raphaël Cabal, Marie-Estelle Gueunier, et al.. Passivated Selective Contact Structure Characterization by C-AFM and KPFM of the Conduction by Pinholes. 28th International Conference on Amorphous and nanocrystalline Semiconductors (ICANS 28), Aug 2019, Palaiseau, France. ⟨hal-02344005⟩

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