Halide Perovskite Thin Films Characterisation by Force Microscopy Techniques - CentraleSupélec
Poster De Conférence Année : 2019

Halide Perovskite Thin Films Characterisation by Force Microscopy Techniques

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Micro et nanotechnologies/Microélectronique Energie électrique Optique / photonique Matériaux

Jean-Paul KLEIDER  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-02344010

Soumis le : dimanche 3 novembre 2019-18:48:18

Dernière modification le : jeudi 14 novembre 2024-16:00:06

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02344010 , version 1 (03-11-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02344010 , version 1

Citer

Aleksandra Bojar, Clément Marchat, J. Alvarez, Philip Schulz, Jean-Paul Kleider. Halide Perovskite Thin Films Characterisation by Force Microscopy Techniques. 28th International Conference on Amorphous and nanocrystalline Semiconductors (ICANS 28), Aug 2019, Palaiseau, France. ⟨hal-02344010⟩

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