Electrical characterization of PA-MBE grown GaN nanowires via conductive probe AFM - Effect of load and generator resistances - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2021

Electrical characterization of PA-MBE grown GaN nanowires via conductive probe AFM - Effect of load and generator resistances

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Frédéric Houzé  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-03844452

Soumis le : mardi 8 novembre 2022-17:11:17

Dernière modification le : mercredi 30 octobre 2024-13:29:21

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03844452 , version 1 (08-11-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03844452 , version 1

Citer

Tanbir Sodhi, Pascal Chrétien, Laurent Travers, Frédéric Houzé, Noëlle Gogneau. Electrical characterization of PA-MBE grown GaN nanowires via conductive probe AFM - Effect of load and generator resistances. Summer School of the GDR-PULSE network, Jul 2021, Porquerolles, France. ⟨hal-03844452⟩

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