Calibrating Resistance Measurements in Conductive Probe Atomic Force Microscopy: development of the first universal standard sample
Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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Frédéric Houzé : Connectez-vous pour contacter le contributeur
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Soumis le : jeudi 5 octobre 2023-17:37:55
Dernière modification le : mardi 28 mai 2024-14:21:03