Calibrating Resistance Measurements in Conductive Probe Atomic Force Microscopy: development of the first universal standard sample - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2023

Calibrating Resistance Measurements in Conductive Probe Atomic Force Microscopy: development of the first universal standard sample

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Physique [physics]
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Frédéric Houzé  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-04230175

Soumis le : jeudi 5 octobre 2023-17:37:55

Dernière modification le : mercredi 30 octobre 2024-13:29:03

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Dates et versions

hal-04230175 , version 1 (05-10-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04230175 , version 1

Citer

François Piquemal, Khaled Kaja, Pascal Chrétien, José A. Morán-Meza, Frédéric Houzé, et al.. Calibrating Resistance Measurements in Conductive Probe Atomic Force Microscopy: development of the first universal standard sample. Nanoscale 2023 : 13th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 9th Seminar on Nanoscale Calibration, Standards and Methods, Oct 2023, Helsinki (Finland), Finland. pp.77-78. ⟨hal-04230175⟩

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