Mesures locales de photoconductivité par AFM à pointe conductrice sur des dispositifs métal-semiconducteur-métal à base de diamant - CentraleSupélec Access content directly
Conference Papers Year : 2006

Mesures locales de photoconductivité par AFM à pointe conductrice sur des dispositifs métal-semiconducteur-métal à base de diamant

José Alvarez
M. Liao
  • Function : Author
Y. Koide
  • Function : Author
No file

Dates and versions

hal-00320320 , version 1 (10-09-2008)

Identifiers

  • HAL Id : hal-00320320 , version 1

Cite

José Alvarez, Jean-Paul Kleider, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, M. Liao, et al.. Mesures locales de photoconductivité par AFM à pointe conductrice sur des dispositifs métal-semiconducteur-métal à base de diamant. Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, 2006, France. ⟨hal-00320320⟩
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