Capacitance measurements on small parallel plate capacitors using nanoscale impedance microscopy - CentraleSupélec
Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 2007

Capacitance measurements on small parallel plate capacitors using nanoscale impedance microscopy

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00320357

Soumis le : mercredi 10 septembre 2008-17:26:49

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Dates et versions

hal-00320357 , version 1 (10-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00320357 , version 1

Citer

Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, René Meyer. Capacitance measurements on small parallel plate capacitors using nanoscale impedance microscopy. Applied Physics Letters, 2007, 90, pp.043116. ⟨hal-00320357⟩

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