Caractérisation d'interface de hétérojonctions a-Si:H/c-Si par spectroscopie de capacité sous polarisation directe - CentraleSupélec Access content directly
Conference Papers Year : 2005

Caractérisation d'interface de hétérojonctions a-Si:H/c-Si par spectroscopie de capacité sous polarisation directe

J. Damon-Lacoste
  • Function : Author
Pere Roca I Cabarrocas
Y. Veschetti
  • Function : Author
P.J. Ribeyron
  • Function : Author
No file

Dates and versions

hal-00321554 , version 1 (15-09-2008)

Identifiers

  • HAL Id : hal-00321554 , version 1

Cite

Alexander Gudovskikh, Jean-Paul Kleider, J. Damon-Lacoste, Pere Roca I Cabarrocas, Y. Veschetti, et al.. Caractérisation d'interface de hétérojonctions a-Si:H/c-Si par spectroscopie de capacité sous polarisation directe. Séminaire ADEME-CEA-CNRS, 2005, France. ⟨hal-00321554⟩
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