Comparison of optical and electrical gap of electrodeposited CuIn(S,Se)2 determined by spectral photo response and I–V–T measurements - CentraleSupélec
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2007

Comparison of optical and electrical gap of electrodeposited CuIn(S,Se)2 determined by spectral photo response and I–V–T measurements

Zakaria Djebbour
Laboratoire de génie électrique de Paris
Anne Migan-Dubois
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Arouna Darga
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Denis Mencaraglia
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Cyril Bazin
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
J.P. Connolly
CV
J.-F. Guillemoles
CV
D. Lincot
  • Fonction : Auteur
B. Canava
  • Fonction : Auteur
A. Etcheberry

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00322102

Soumis le : mardi 16 septembre 2008-16:27:03

Dernière modification le : mardi 27 août 2024-11:55:44

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00322102 , version 1 (16-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00322102 , version 1

Citer

Zakaria Djebbour, Anne Migan-Dubois, Arouna Darga, Denis Mencaraglia, Cyril Bazin, et al.. Comparison of optical and electrical gap of electrodeposited CuIn(S,Se)2 determined by spectral photo response and I–V–T measurements. Thin Solid Films, 2007, 515, pp.6233-6237. ⟨hal-00322102⟩

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