Characterization of amorphous/crystalline silicon interfaces from electrical measurements - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Characterization of amorphous/crystalline silicon interfaces from electrical measurements

Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
A.S. Gudovskikh
  • Fonction : Auteur

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00351211

Soumis le : jeudi 8 janvier 2009-16:30:52

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00351211 , version 1 (08-01-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00351211 , version 1

Citer

Jean-Paul Kleider, A.S. Gudovskikh. Characterization of amorphous/crystalline silicon interfaces from electrical measurements. MRS Spring Meeting, Mar 2008, San Francisco, United States. ⟨hal-00351211⟩

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