Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
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https://centralesupelec.hal.science/hal-00351211
Soumis le : jeudi 8 janvier 2009-16:30:52
Dernière modification le : mercredi 13 août 2025-03:05:39
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00351211 , version 1
Citer
Jean-Paul Kleider, A.S. Gudovskikh. Characterization of amorphous/crystalline silicon interfaces from electrical measurements. MRS Spring Meeting, Mar 2008, San Francisco, United States. ⟨hal-00351211⟩
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