Focused ion beam processing of organic crystal (TMTSF)2PF6. A combined conducting probe atomic force microscopy and secondary ion mass spectrometry study - CentraleSupélec
Article Dans Une Revue Journal of Applied Physics Année : 2008

Focused ion beam processing of organic crystal (TMTSF)2PF6. A combined conducting probe atomic force microscopy and secondary ion mass spectrometry study

K. Wang
  • Fonction : Auteur
Olivier Schneegans
Laboratoire de génie électrique de Paris
A. Moradpour
  • Fonction : Auteur
F. Jomard
  • Fonction : Auteur

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00351341

Soumis le : vendredi 9 janvier 2009-10:02:24

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00351341 , version 1 (09-01-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00351341 , version 1

Citer

K. Wang, Olivier Schneegans, A. Moradpour, F. Jomard. Focused ion beam processing of organic crystal (TMTSF)2PF6. A combined conducting probe atomic force microscopy and secondary ion mass spectrometry study. Journal of Applied Physics, 2008, 103, pp.013711. ⟨hal-00351341⟩

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