Influence of morphology on the conductance of single-crystal diamond surfaces measured by atomic force microscopy - CentraleSupélec
Article Dans Une Revue Journal of Applied Physics Année : 2009

Influence of morphology on the conductance of single-crystal diamond surfaces measured by atomic force microscopy

Erwan Tranvouez
  • Fonction : Auteur
E. Boer-Duchemin
A.J. Mayne
CV
T. Vanderbruggen
  • Fonction : Auteur
M. Scheele
  • Fonction : Auteur
R. Cartwright
  • Fonction : Auteur
G. Comtet
  • Fonction : Auteur
Guillaume Dujardin
  • Fonction : Auteur
Olivier Schneegans
Laboratoire de génie électrique de Paris
Pascal Chrétien
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Frédéric Houzé
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00444497

Soumis le : mercredi 6 janvier 2010-16:45:38

Dernière modification le : lundi 18 mars 2024-14:41:58

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Dates et versions

hal-00444497 , version 1 (06-01-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00444497 , version 1

Citer

Erwan Tranvouez, E. Boer-Duchemin, A.J. Mayne, T. Vanderbruggen, M. Scheele, et al.. Influence of morphology on the conductance of single-crystal diamond surfaces measured by atomic force microscopy. Journal of Applied Physics, 2009, 106 (5), pp. 054301-1 054301-7. ⟨hal-00444497⟩

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