Electronic and structural properties of the amorphous/crystalline silicon interface - CentraleSupélec
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2009

Electronic and structural properties of the amorphous/crystalline silicon interface

Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Rémy Chouffot
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
A.S. Gudovskikh
  • Fonction : Auteur
Pere Roca I Cabarrocas
M. Labrune
  • Fonction : Auteur
P.J. Ribeyron
  • Fonction : Auteur
R. Brüggemann
  • Fonction : Auteur

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00445964

Soumis le : lundi 11 janvier 2010-16:16:19

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00445964 , version 1 (11-01-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00445964 , version 1

Citer

Jean-Paul Kleider, Rémy Chouffot, A.S. Gudovskikh, Pere Roca I Cabarrocas, M. Labrune, et al.. Electronic and structural properties of the amorphous/crystalline silicon interface. Thin Solid Films, 2009, 517, pp. 6386-6391. ⟨hal-00445964⟩

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