Apport du microscope à force atomique pour l\'étude de certains phénomènes relatifs aux micro-contacts électriques - CentraleSupélec Access content directly
Conference Papers Year : 2011

Apport du microscope à force atomique pour l\'étude de certains phénomènes relatifs aux micro-contacts électriques

M Vincent
  • Function : Author
S. W. Row
  • Function : Author
C Poulain
  • Function : Author
L Chiesi
  • Function : Author
J Delamarre
  • Function : Author
No file

Dates and versions

hal-00710617 , version 1 (21-06-2012)

Identifiers

  • HAL Id : hal-00710617 , version 1

Cite

M Vincent, S. W. Row, C Poulain, L Chiesi, Frédéric Houzé, et al.. Apport du microscope à force atomique pour l\'étude de certains phénomènes relatifs aux micro-contacts électriques. Forum des Microscopies à Sonde Locale 2011, Mar 2011, Ecully, France. pp.88. ⟨hal-00710617⟩
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