Low temperature amorphous growth of semiconducting Y-Ba-Cu-O oxide thin films in view of infrared bolometric detection - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Low temperature amorphous growth of semiconducting Y-Ba-Cu-O oxide thin films in view of infrared bolometric detection

Vishal Jagtap
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
Annick Dégardin
Laboratoire de génie électrique de Paris
Alain Kreisler
Laboratoire de génie électrique de Paris

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00710705

Soumis le : jeudi 21 juin 2012-15:14:36

Dernière modification le : vendredi 20 octobre 2023-16:51:16

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00710705 , version 1 (21-06-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00710705 , version 1

Citer

Vishal Jagtap, Annick Dégardin, Alain Kreisler. Low temperature amorphous growth of semiconducting Y-Ba-Cu-O oxide thin films in view of infrared bolometric detection. Spring Meeting of the European Materials Science Society (E-MRS 2011), 2011, Nice, France. ⟨hal-00710705⟩

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