Wide frequency band dielectric characterization and morphology of low temperature sputtered amorphous Y-Ba-Cu-O thin films; application to infrared detectors - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Wide frequency band dielectric characterization and morphology of low temperature sputtered amorphous Y-Ba-Cu-O thin films; application to infrared detectors

Aurélie Gensbittel
Laboratoire de génie électrique de Paris
Annick Dégardin
Laboratoire de génie électrique de Paris
Olivier Dubrunfaut
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Vishal Jagtap
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
Alain Kreisler
Laboratoire de génie électrique de Paris

Thierry Leblanc  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00931073

Soumis le : mardi 14 janvier 2014-19:23:56

Dernière modification le : vendredi 20 octobre 2023-16:53:43

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00931073 , version 1 (14-01-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00931073 , version 1

Citer

Aurélie Gensbittel, Annick Dégardin, Olivier Dubrunfaut, Vishal Jagtap, Alain Kreisler. Wide frequency band dielectric characterization and morphology of low temperature sputtered amorphous Y-Ba-Cu-O thin films; application to infrared detectors. Conference of the European Materials Science Society (E-MRS 2013), May 2013, Strasbourg, France. ⟨hal-00931073⟩

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