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Conference Papers Year : 2013

Caractérisation des défauts électriquement actifs de semiconducteurs en couches minces par la technique du photocourant modulé

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Dates and versions

hal-00931321 , version 1 (15-01-2014)

Identifiers

  • HAL Id : hal-00931321 , version 1

Cite

Marie-Estelle Gueunier-Farret, Jean-Paul Kleider, Christophe Longeaud, Sofia Gaiaschi. Caractérisation des défauts électriquement actifs de semiconducteurs en couches minces par la technique du photocourant modulé. JNPV 2013, Dec 2013, Dourdan, France. ⟨hal-00931321⟩
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