Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Coplanar conductance measurements and modeling to characterize surface passivation of c-Si wafers by a-Si:H

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00931340 , version 1 (15-01-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00931340 , version 1

Citer

Igor P. Sobkowicz, Parsathi Chatterjee, Marie-Estelle Gueunier-Farret, Antoine Salomon, Jean-Paul Kleider, et al.. Coplanar conductance measurements and modeling to characterize surface passivation of c-Si wafers by a-Si:H. EUPVSEC 2013, Sep 2013, Paris, France. pp.1680 - 1685. ⟨hal-00931340⟩
194 Consultations
0 Téléchargements

Partager

  • More